На правах рекламы:
ISSN 0236-235X (P)
ISSN 2311-2735 (E)

Авторитетность издания

ВАК - К1
RSCI, ядро РИНЦ

Добавить в закладки

Следующий номер на сайте

4
Ожидается:
09 Декабря 2024

Ключевое слово: тестопригодное проектирование

  1. Маршрут тестопригодного проектирования электронных устройств в САПР компании Mentor Graphics
  2. Авторы статьи: Мосин С.Г.

  3. Библиотека компонентов внутрисхемного тестирования смешанных интегральных схем
  4. Авторы статьи: Ефремов И.А., Мосин С.Г., Кисляков М.А.