На правах рекламы:
ISSN 0236-235X (P)
ISSN 2311-2735 (E)
Подать статью

Авторитетность издания

ВАК - К1
RSCI, ядро РИНЦ

Добавить в закладки

Следующий номер на сайте

№1
Ожидается:
16 Марта 2024
RSS
Подписаться на RSS

Ключевое слово: случайное тестирование

  1. Развитие системы стохастического тестирования микропроцессоров INTEG
    2. Авторы статьи: Грибков И.В., Захаров А.В., Кольцов П.П., Котович Н.В., Кравченко А.А., Куцаев А.С., Осипов А.С., Хисамбеев И.Ш., Коганов М.А.