На правах рекламы:
ISSN 0236-235X (P)
ISSN 2311-2735 (E)
Подать статью

Авторитетность издания

ВАК - К1
RSCI, ядро РИНЦ

Добавить в закладки

Следующий номер на сайте

№4
Ожидается:
09 Декабря 2024
RSS
Подписаться на RSS

Ключевое слово: системный уровень

  1. Измерение производительности компонентов подсистемы памяти для гетерогенных систем на кристалле
    2. Авторы статьи: Антонов А.А., Ключев А.О.