На правах рекламы:
ISSN 0236-235X (P)
ISSN 2311-2735 (E)

Авторитетность издания

ВАК - К1
RSCI, ядро РИНЦ

Добавить в закладки

Следующий номер на сайте

4
Ожидается:
09 Декабря 2024

В МГТУ им. Н.Э. Баумана рассмотрены особенности применения алгоритмов снижения размерности в задачах проектирования многослойных радиационно стойких экранов защиты электронной аппаратуры

31.07.2024

Для решения проблемы анализа конфигураций экранов защиты предложена методика с использованием алгоритма t-SNE. Производится декомпозиция параметров, характеризующих структурные составляющие многослой- ного защитного экрана, на различные уровни – многослойный экран, материалы и отдельные химические элементы. После чего полученные параметры представляются в численном виде. В случае с характеристиками, не являющимися численными, можно использовать кодировку, где каждому возможному значению параметра соответствует свой уникальный численный код, либо так называемый метод one-hot encoding, при котором каждому возможному значению характеристики соответствует элемент множества, принимающий значение 1, если значение характеристики соответствует данному элементу, и 0, если не соответствует. Таким образом, каждой конфигурации соответствует множество численных значений, которые можно рассматривать как точки в пространстве высокой размерности. Далее используется алгоритм t-SNE, проецирующий многомерные данные в двухмерное пространство с сохранением общей структуры данных. После этого строятся когнитивные визуальные образы на основе полученной проекции точек, отражающих возможные конфигурации, благодаря чему значительно упрощается восприятие данных и разработчик может определить степень сходства конфигураций между собой. Такой подход позволяет приблизительно оценить характеристики группы конфигураций многослойных экранов защиты, проведя расчеты для одной или нескольких из них.
Подробное описание дается в статье "Применение алгоритмов сжатия информации для задачи когнитивного отображения проектного пространства многослойных экранов защиты от радиации", авторы Зинченко Л.А., Казаков В.В.,  Карышев Б.В. (МГТУ им. Н.Э. Баумана, г. Москва).