Авторитетность издания
ВАК - К1
RSCI, ядро РИНЦ
Добавить в закладки
Следующий номер на сайте
№2
Ожидается:
16 Июня 2024
Алгоритм обнаружения и сегментации дефектов в полупрозрачных минералах на фотоизображениях
Algorithm for detection and segmentation of defects in transparent minerals on photographs
Статья опубликована в выпуске журнала № 3 за 2013 год. [ на стр. 179-181 ]Аннотация:В статье описан новый алгоритм обнаружения и сегментации дефектов в полупрозрачных минералах на фотоизображениях, обладающий большей точностью и устойчивостью к входным данным, чем существующие методы. Многие из известных алгоритмов неприменимы к задаче поиска дефектов из-за множества ограничений на входные данные и априорных предположений о форме искомых объектов, размере и контрастности границы. Наиболее перспективными являются методы на основе оценки фона изображения, использующие только информацию о яркости изображения. Разработанный алгоритм позволяет более точно, чем существующие аналоги, оценивать фон изображения, так как, помимо яркости изображения, используется простая физическая модель получения фотографий. На основе оценки фона производятся сегментация и классификация найденных областей на дефекты и фон с использованием метода опорных векторов. Алгоритм был протестирован на реальных данных из алмазной промышленности. Также было проведено сравнение предложенного алгоритмас уже существующими. Результаты сравнения показали, что предложенный алгоритм обладает более высокой точностью на реальных данных, чем его аналоги.
Abstract:The paper proposes a new algorithm to detect and segment defects in transparent minerals that is more accurate and stable than existing methods. Many existing algorithms cannot be applied to the defect detection problem as they have restrictions on input data and require some additional prior knowledge about shape of detected objects, their sizeand contrast. The most useful methods that can be applied to defect detection are algorithms based on background estimation. Such algo-rithms use information about image intensity. The proposed algorithm estimates the background more precisely than existing methods, because, besides image intensity, it takes intoaccount the physical principles of input data acquirement. The image is segmented based on background estimation. Segments are classified using classifier trained by support vector machine al-gorithm. The algorithm was tested on real world data from diamond industry. It also was compared with other background estimation algorithms. The results of comparison show that theproposed algorithm is more precise than other existing methods.
Авторы: Лебедев А.С. (alebedev@graphics.cs.msu.ru) - Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова (аспирант), г. Москва, Россия, Гаганов В.А. (vgaganov@graphics.cs.msu.ru) - Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, г. Москва, Россия, кандидат физико-математических наук, Игнатенко А.В. (ignatenko@graphics.cs.msu.ru) - Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, г. Москва, Россия, кандидат физико-математических наук | |
Ключевые слова: метод опорных векторов., оценка фона, сегментация изображений, детектирование объектов, компьютерное зрение |
|
Keywords: support vector method, background estimation, image segmentation, object detection, computer vision |
|
Количество просмотров: 16472 |
Версия для печати Выпуск в формате PDF (13.63Мб) Скачать обложку в формате PDF (1.39Мб) |
Алгоритм обнаружения и сегментации дефектов в полупрозрачных минералах на фотоизображениях
Статья опубликована в выпуске журнала № 3 за 2013 год. [ на стр. 179-181 ]
В статье описан новый алгоритм обнаружения и сегментации дефектов в полупрозрачных минералах на фотоизображениях, обладающий большей точностью и устойчивостью к входным данным, чем существующие методы.
Многие из известных алгоритмов неприменимы к задаче поиска дефектов из-за множества ограничений на входные
данные и априорных предположений о форме искомых объектов, размере и контрастности границы. Наиболее перспективными являются методы на основе оценки фона изображения, использующие только информацию о яркости
изображения. Разработанный алгоритм позволяет более точно, чем существующие аналоги, оценивать фон изображения, так как, помимо яркости изображения, используется простая физическая модель получения фотографий. На
основе оценки фона производятся сегментация и классификация найденных областей на дефекты и фон с использованием метода опорных векторов. Алгоритм был протестирован на реальных данных из алмазной промышленности.
Также было проведено сравнение предложенного алгоритмас уже существующими. Результаты сравнения показали,
что предложенный алгоритм обладает более высокой точностью на реальных данных, чем его аналоги.
Лебедев А.С. (alebedev@graphics.cs.msu.ru) - Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова (аспирант), г. Москва, Россия, Гаганов В.А. (vgaganov@graphics.cs.msu.ru) - Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, г. Москва, Россия, кандидат физико-математических наук, Игнатенко А.В. (ignatenko@graphics.cs.msu.ru) - Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, г. Москва, Россия, кандидат физико-математических наук
Ссылка скопирована!
Постоянный адрес статьи: http://swsys.ru/index.php?page=article&id=3583 |
Версия для печати Выпуск в формате PDF (13.63Мб) Скачать обложку в формате PDF (1.39Мб) |
Статья опубликована в выпуске журнала № 3 за 2013 год. [ на стр. 179-181 ] |
Статья опубликована в выпуске журнала № 3 за 2013 год. [ на стр. 179-181 ]
Возможно, Вас заинтересуют следующие статьи схожих тематик:Возможно, Вас заинтересуют следующие статьи схожих тематик:
- Использование геометрии сцены для увеличения точности детекторов
- Алгоритм детектирования объектов на фотоснимках с низким качеством изображения
- Поиск регулярных решеток на текстуре фасадов зданий
- Подсчет количества людей в видеопоследовательности на основе детектора головы человека
- Прототип системы анализа состояния вычислительного кластера на основе метода опорных векторов
Назад, к списку статей