ISSN 0236-235X (P)
ISSN 2311-2735 (E)

Bookmark

Next issue

1
Publication date:
16 March 2021
-->

Keyword: stochastic testing

  1. The development of the system for microprocessor random testing INTEG
  2. Authors: Грибков И.В., Захаров А.В., Кольцов П.П., Котович Н.В., Кравченко А.А., Куцаев А.С., Осипов А.С., Хисамбеев И.Ш., Коганов М.А.